(Bild: Stannol GmbH & Co. KG)
Ziel war es, wissenschaftlich zu belegen, dass sich Primär- und Sekundärzinn in Reinheit und Qualität nicht voneinander unterscheiden.
Lichtmikroskopische Untersuchung
Das Ergebnis der Analyse: Die kristallografische Untersuchung an den präparierten Mikroschliffen der Proben hat keine sichtbaren Unterschiede zwischen beiden Varianten aufgezeigt. Durch einen chemischen Ätzprozess konnten die einzelnen Kristalle und Korngrenzen in den Zinnproben gut sichtbar gemacht werden. Weder beim primär noch beim sekundär gewonnenem Zinn konnten ließen sich entlang der Korngrenzen Verunreinigungen feststellen.
Rasterelektronenmikroskop und EDX
Die Reinheit der Zinnproben wurde außerdem im Rasterelektronenmikroskop (Bild) sowie durch energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) qualitativ mittels Mapping-Scan und quantitativ mittels Punktanalyse mit stöchiometrischer Auswertung analysiert. Die Ergebnisse dieser Untersuchungsverfahren ergaben ebenfalls eine hohe Reinheit der Proben beider Zinnvarianten.
Thermische Analyse
In der thermischen Analyse konnten lediglich geringe Unterschiede in einer Größenordnung <0,5 K zwischen sekundärem und primärem Zinn festgestellt werden. Der leicht höhere Schmelzpunkt des sekundären Zinns liegt etwas näher am theoretischen Literatur-Wert der Schmelztemperatur für das reine Zinn. Zusammen mit einer geringeren Standardabweichung der gemessenen Schmelztemperaturwerte beim sekundären Zinn im Vergleich zum primären Zinn lässt sich deshalb auf eine hohe Qualität und Reinheit des sekundären Zinns schließen.
»Mit diesen Ergebnissen können wir eindeutig belegen, dass sich Sekundärzinn qualitativ nicht von Primärzinn unterscheidet. Wir hoffen, dass wir damit Vorurteile, die in der Elektronikbranche gegenüber diesem wertvollen Rohstoff aus wiedergewonnenem Zinn herrschen, endgültig aus dem Weg räumen konnten«, betont Ingo Lomp, Leiter Innovation bei Stannol.
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